當前位置：
15J測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：
1.直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等等。
2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察，以比較法檢查工作表面粗糙度，鑒定冶金工業的礦石標本，檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
1.光學系統規格
2.測量工作臺讀數裝置主要規格
X軸移動測量范圍：50mm
Y軸移動測量范圍：13mm
測微器分度值：0.01mm
測量臺轉動范圍：不限
測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°
測量臺刻度盤之分度值：1°
測量臺刻度盤游讀數示值：6′
3.測量精度：
儀器示值誤差：±(4+L/15 )um
儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。
注：測量地點溫度變化(20±3)℃
L-被測件長度(mm)
4.儀器之主要尺寸：
測量臺與物鏡間之*大距離：80mm
測量工作臺直徑：120mm
