原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000AFM一、主要特點(diǎn)1.光機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單；2.掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，抗干擾能力強(qiáng)；3.精密激光檢測(cè)及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡(jiǎn)單，操作方便；4.采用精密探針定位模塊，更換探針簡(jiǎn)單方便5.采用樣品趨近探針?lè)绞剑贯樇獯怪庇跇悠窉呙瑁?.伺服馬達(dá)手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；7.高精度大范圍的樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；8.高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；9.帶光學(xué)定位的CCD觀察系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針掃描樣品區(qū)域10.模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；11.集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用。12.彈簧懸掛式防震方式，簡(jiǎn)單實(shí)用，抗干擾能力強(qiáng) 二、友好的軟件界面及操作功能1. 可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×5122. 多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖3. 可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域4. 可任意選擇樣品起始掃描角度5. 激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能6. 可任意定義掃描圖像的色板功能7. 支持樣品傾斜線(xiàn)平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能8. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正9. 支持樣品圖片離線(xiàn)分析與處理功能 三、技術(shù)規(guī)格名 稱(chēng)參 數(shù)名 稱(chēng)參 數(shù)工作模式1. 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力掃描角度任意樣品尺寸Φ≤90mm；H≤20mm樣品移動(dòng)范圍0～20mm*大掃描范圍橫向20um，縱向2um馬達(dá)趨近脈沖寬度10±2m掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nm光學(xué)放大倍數(shù)4X掃描速率0.6Hz~4.34Hz光學(xué)分辨率2.5um掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A圖像采樣點(diǎn)256×256，512×512數(shù)據(jù)采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋方式DSP數(shù)字反饋計(jì)算機(jī)接口USB2.0反饋采樣速率64.0KHz運(yùn)行環(huán)境運(yùn)行于WindowsXP/7/8操作系統(tǒng)

原子力顯微鏡FM-Nainoview 6800AFM一、功能特點(diǎn)1. 光機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單；2. 掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，抗干擾能力強(qiáng)；3. 精密激光檢測(cè)及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡(jiǎn)單，操作方便；4. 采用樣品趨近探針?lè)绞剑贯樇獯怪庇跇悠窉呙瑁?. 伺服馬達(dá)手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；6. 高精度大范圍的樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；7. 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；8. 采用伺服馬達(dá)控制CCD對(duì)焦和光學(xué)放大；9. 模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；10. 集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用。二、友好的軟件1. 可觀測(cè)樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像2. 具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式3. 多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖4. 多種曲線(xiàn)力-間距（F-Z）、頻率-RMS（f-RMS)、RMS-間隙（RMS-Z)測(cè)量功能5. 可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域6. 激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能7. 針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能8. 可任意定義掃描圖像的色板功能9. 支持樣品傾斜線(xiàn)平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能10. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正11. 支持樣品圖片離線(xiàn)分析與處理功能三、技術(shù)規(guī)格名 稱(chēng)參 數(shù)名 稱(chēng)參 數(shù)工作模式接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力掃描角度任意樣品尺寸Φ≤90mm，H≤20mm樣品移動(dòng)范圍0～20mm*大掃描范圍橫向50um，縱向5um光學(xué)放大倍數(shù)10X掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nm光學(xué)分辨率1um掃描速率0.6Hz~4.34Hz圖像采樣點(diǎn)256×256，512×512掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反饋方式DSP數(shù)字反饋數(shù)據(jù)采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋采樣速率64.0KHz儀器重量體積40KG，700′480′450mm計(jì)算機(jī)接口USB2.0運(yùn)行環(huán)境運(yùn)行于WindowsXP/7/8操作系統(tǒng)

原子力顯微鏡(FM-Nanoview 6600AFM)一、功能特點(diǎn)1、光機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單；2、掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，抗干擾能力強(qiáng)；3、精密激光檢測(cè)及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡(jiǎn)單，操作方便；4、采用樣品趨近探針?lè)绞剑贯樇獯怪庇跇悠窉呙瑁?、伺服馬達(dá)手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位；6、高精度大范圍的樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇；8、自由變倍的CCD觀測(cè)系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針掃描樣品區(qū)域；9、采用伺服馬達(dá)控制CCD對(duì)焦和光學(xué)放大；10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用。二、友好的軟件界面及操作功能1、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；2、多種曲線(xiàn)力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測(cè)量功能；3、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；4、可任意選擇樣品起始掃描角度；5、激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；6、針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能；7、可任意定義掃描圖像的色板功能；8、支持樣品傾斜線(xiàn)平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；9、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；三、技術(shù)規(guī)格名 稱(chēng)參 數(shù)名 稱(chēng)參 數(shù)工作模式輕敲模式、接觸模式掃描角度任意樣品尺寸Φ≤80mm；H≤20mm樣品移動(dòng)范圍0～20mm*大掃描范圍橫向50um，縱向5um馬達(dá)趨近脈沖寬度10±2m掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nmCCD放大倍數(shù)光學(xué)放大0.6～5X電子放大40X掃描速率0.6Hz~4.34Hz圖像采樣點(diǎn)256×256，512×512掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反饋方式DSP數(shù)字反饋數(shù)據(jù)采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋采樣速率64.0KHz儀器重量體積40KG，700′480′450mm計(jì)算機(jī)接口USB2.0運(yùn)行環(huán)境運(yùn)行于WindowsXP/7/8操作系統(tǒng)