原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000AFM一、主要特點1.光機電一體化設計，外形結構簡單；2.掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；3.精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；4.采用精密探針定位模塊，更換探針簡單方便5.采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；6.伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；7.高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；8.高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；9.帶光學定位的CCD觀察系統，實時觀測與定位探針掃描樣品區域10.模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；11.集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。12.彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強 二、友好的軟件界面及操作功能1. 可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×5122. 多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖3. 可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域4. 可任意選擇樣品起始掃描角度5. 激光光斑檢測系統的實時調整功能6. 可任意定義掃描圖像的色板功能7. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能8. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正9. 支持樣品圖片離線分析與處理功能 三、技術規格名 稱參 數名 稱參 數工作模式1. 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力掃描角度任意樣品尺寸Φ≤90mm；H≤20mm樣品移動范圍0～20mm*大掃描范圍橫向20um，縱向2um馬達趨近脈沖寬度10±2m掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nm光學放大倍數4X掃描速率0.6Hz~4.34Hz光學分辨率2.5um掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A圖像采樣點256×256，512×512數據采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋方式DSP數字反饋計算機接口USB2.0反饋采樣速率64.0KHz運行環境運行于WindowsXP/7/8操作系統

原子力顯微鏡FM-Nainoview 6800AFM一、功能特點1. 光機電一體化設計，外形結構簡單；2. 掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；3. 精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；4. 采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；5. 伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；6. 高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；7. 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；8. 采用伺服馬達控制CCD對焦和光學放大；9. 模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；10. 集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。二、友好的軟件1. 可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像2. 具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式3. 多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖4. 多種曲線力-間距（F-Z）、頻率-RMS（f-RMS)、RMS-間隙（RMS-Z)測量功能5. 可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域6. 激光光斑檢測系統的實時調整功能7. 針尖共振峰自動和手動搜索功能8. 可任意定義掃描圖像的色板功能9. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能10. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正11. 支持樣品圖片離線分析與處理功能三、技術規格名 稱參 數名 稱參 數工作模式接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力掃描角度任意樣品尺寸Φ≤90mm，H≤20mm樣品移動范圍0～20mm*大掃描范圍橫向50um，縱向5um光學放大倍數10X掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nm光學分辨率1um掃描速率0.6Hz~4.34Hz圖像采樣點256×256，512×512掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反饋方式DSP數字反饋數據采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋采樣速率64.0KHz儀器重量體積40KG，700′480′450mm計算機接口USB2.0運行環境運行于WindowsXP/7/8操作系統

原子力顯微鏡(FM-Nanoview 6600AFM)一、功能特點1、光機電一體化設計，外形結構簡單；2、掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；3、精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；4、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；5、伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；6、高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；8、自由變倍的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針掃描樣品區域；9、采用伺服馬達控制CCD對焦和光學放大；10、模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。二、友好的軟件界面及操作功能1、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；2、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；3、可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域；4、可任意選擇樣品起始掃描角度；5、激光光斑檢測系統的實時調整功能；6、針尖共振峰自動和手動搜索功能；7、可任意定義掃描圖像的色板功能；8、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；9、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；三、技術規格名 稱參 數名 稱參 數工作模式輕敲模式、接觸模式掃描角度任意樣品尺寸Φ≤80mm；H≤20mm樣品移動范圍0～20mm*大掃描范圍橫向50um，縱向5um馬達趨近脈沖寬度10±2m掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nmCCD放大倍數光學放大0.6～5X電子放大40X掃描速率0.6Hz~4.34Hz圖像采樣點256×256，512×512掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反饋方式DSP數字反饋數據采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋采樣速率64.0KHz儀器重量體積40KG，700′480′450mm計算機接口USB2.0運行環境運行于WindowsXP/7/8操作系統