便攜式金相拋光機BM-SP-1一、用途BM-SP-1便攜式拋光機又叫手持拋光機，它結構輕巧，短小，堅實金屬齒輪箱 轉數精確，是一種萬能單手式磨拋光機，極易操作，用途廣泛．主要用于電力機械，鑄鍛，鍋爐等大型機械設備。二、規格1、電機：該機的動力部分適用電源AC220、50HZ、120W。 轉速0—3000轉／分2、拋光夾盤直徑：? 40mm3、拋磨頭：8mm

TM3030 型掃描電子顯微鏡一、用途Hitachi TM3030型掃描電子顯微鏡(SEM)向來被廣泛用于生物、材料、化學、物理等各種不同領域的表面觀察和分析。但是由于SEM的局限性，使用者需要花費大量時間在樣品制備和電鏡的操作上。為此，日立在原有的，已受到廣泛好評的TM-1000的技術上，精益求精，研發出結構更緊湊、功能更齊備、操作更簡便的TM-3000臺式掃描電子顯微鏡。通過簡單的操作，即可達到觀察微觀世界的目的。二、技術規格項 目內 容放大倍率15X～30,000X(數字放大：2X、4X)觀察模式標準模式、減輕荷電模式、大束流分析模式圖像模式形貌像、成份像、陰影像1、陰影像2、凹凸像電子光學系統電子槍預對中發夾型鎢燈絲加速電壓5kV、15kV 、EDX透鏡系統3級電磁式透鏡會聚系統電位移±50μm (WD=4.5mm、觀察條件：標準模式)能譜分析位置WD=10mm, TOA=35°樣品臺樣品臺控制2軸手動樣品臺樣品可移動范圍X：±17.5mm、Y：±17.5mm*大樣品尺寸直徑70mm*大樣品厚度50mm檢測器高靈敏4分割半導體背散射電子檢測器真空系統自動控制系統全自動氣動閥控制系統*高真空度1.5×10-5Pa可變真空度6~270Pa(22steps)渦輪分子泵30L/s 1臺隔膜泵1m3/h 1臺真空計1臺自動功能自動燈絲飽和已配備自動電子束設定已配備自動電子槍對中已配備自動合軸已配備自動聚焦、消像散已配備自動亮度、對比度已配備自動保護功能帶有過電流保護功能、漏電遮斷器計算機控制系統操作系統Microsoft Windows? 7CPUIntel? CoreTM2 Duo P8700(或與其兼容的PC)內存容量2GB以上接口與端子USB2.0接口(2個)、網路接口(以太網)觀察15.4英寸LCD；屏幕分辨率1280×800像素控制鼠標、鍵盤掃描速度TV掃描640×480象素顯示，25幀/秒快速掃描全屏顯示，6.3幀/秒慢速掃描全屏顯示，1/4/20/40/80秒/幀640×480像素顯示，0.5/2/10/20/40秒/幀圖像數據存儲圖像存儲像素640 × 480、1,280 × 960像素圖像數據保存PC帶硬盤及其他記錄媒體圖像存儲格式BMP、TIFF、JPEG圖像信息微標尺、微值、放大倍率、日期、時間、圖像編號、注釋、觀察條件、觀察模式、圖像模式、工作距離輔助功能圖像旋轉、簡單測量、三維動畫維護指南使用環境室溫15°C ～30°C相對濕度40%～70%電源單相AC100～240V(*低90V、*高250V) 50/60Hz、3P插座地線D類接地，電阻小于100Ω體積與重量主機330(長)×606(寬)×565(高)mm、63.0Kg(manual stage)330(長)×630(寬)×565(高)mm、66.0Kg(motor drive stage)隔膜泵145(長)×256(寬)×217(高)mm、4.5Kg

U1510掃描電子顯微鏡一、用途SU1510掃描電子顯微鏡主機寬度僅為55cm體型小巧，具有3.0nm分辨率的高性能可變壓力掃描電鏡。特點　　1. 儀器主體比過去減小20%，可以更加自由地選擇安裝場地。　　2. 標配低真空功能，可以對不導電進行無噴涂觀察。高低真空轉換一鍵完成。　　3. 可載入＊大直徑153mm，高度為60mm(WD=15mm)的樣品，并進行元素分析。　　4. 強大的鼠標控制功能，可實現電鏡的所有操作。　　5. 分子泵真空系統，潔凈無污染。二、技術規格項目內容二次電子分辨率3.0nm（高真空，30kV）背散射電子分辨率4.0nm(低真空：6Pa，30kV）倍率5～300,000X加速電圧0.3～30 kV樣品臺     X     0～80 mm        Y     0～40 mm； Z     5～50 mm；     T     -20°～ 90°； R    360° 樣品臺控制手動（可選：2軸馬達）＊大載入樣品尺寸直徑：153 mm＊大觀察范圍直徑：126 mm（XYR并用）＊大樣品高度60 mm（WD=15 mm）低真空范圍6-270Pa(從菜單設定)燈絲預對中鎢燈絲物鏡光闌4孔可變光闌槍偏壓固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏壓檢測器二次電子檢測器，高靈敏度半導體背散射電子檢測器EDX分析位置WD=15,TOA=35°真空系統分子泵1臺，機械泵1臺安全措施停電，漏電，自動保護

原子力顯微鏡FM-Nanoview 1000AFM一、主要特點1.光機電一體化設計，外形結構簡單；2.掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；3.精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；4.采用精密探針定位模塊，更換探針簡單方便5.采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；6.伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；7.高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；8.高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；9.帶光學定位的CCD觀察系統，實時觀測與定位探針掃描樣品區域10.模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；11.集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。12.彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強 二、友好的軟件界面及操作功能1. 可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×5122. 多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖3. 可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域4. 可任意選擇樣品起始掃描角度5. 激光光斑檢測系統的實時調整功能6. 可任意定義掃描圖像的色板功能7. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能8. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正9. 支持樣品圖片離線分析與處理功能 三、技術規格名 稱參 數名 稱參 數工作模式1. 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力掃描角度任意樣品尺寸Φ≤90mm；H≤20mm樣品移動范圍0～20mm*大掃描范圍橫向20um，縱向2um馬達趨近脈沖寬度10±2m掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nm光學放大倍數4X掃描速率0.6Hz~4.34Hz光學分辨率2.5um掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A圖像采樣點256×256，512×512數據采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋方式DSP數字反饋計算機接口USB2.0反饋采樣速率64.0KHz運行環境運行于WindowsXP/7/8操作系統

原子力顯微鏡FM-Nainoview 6800AFM一、功能特點1. 光機電一體化設計，外形結構簡單；2. 掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；3. 精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；4. 采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；5. 伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；6. 高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；7. 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；8. 采用伺服馬達控制CCD對焦和光學放大；9. 模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；10. 集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。二、友好的軟件1. 可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像2. 具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式3. 多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖4. 多種曲線力-間距（F-Z）、頻率-RMS（f-RMS)、RMS-間隙（RMS-Z)測量功能5. 可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域6. 激光光斑檢測系統的實時調整功能7. 針尖共振峰自動和手動搜索功能8. 可任意定義掃描圖像的色板功能9. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能10. 支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正11. 支持樣品圖片離線分析與處理功能三、技術規格名 稱參 數名 稱參 數工作模式接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力掃描角度任意樣品尺寸Φ≤90mm，H≤20mm樣品移動范圍0～20mm*大掃描范圍橫向50um，縱向5um光學放大倍數10X掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nm光學分辨率1um掃描速率0.6Hz~4.34Hz圖像采樣點256×256，512×512掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反饋方式DSP數字反饋數據采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋采樣速率64.0KHz儀器重量體積40KG，700′480′450mm計算機接口USB2.0運行環境運行于WindowsXP/7/8操作系統

原子力顯微鏡(FM-Nanoview 6600AFM)一、功能特點1、光機電一體化設計，外形結構簡單；2、掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；3、精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；4、采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；5、伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；6、高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；7、高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；8、自由變倍的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針掃描樣品區域；9、采用伺服馬達控制CCD對焦和光學放大；10、模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。二、友好的軟件界面及操作功能1、多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；2、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；3、可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域；4、可任意選擇樣品起始掃描角度；5、激光光斑檢測系統的實時調整功能；6、針尖共振峰自動和手動搜索功能；7、可任意定義掃描圖像的色板功能；8、支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；9、支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；三、技術規格名 稱參 數名 稱參 數工作模式輕敲模式、接觸模式掃描角度任意樣品尺寸Φ≤80mm；H≤20mm樣品移動范圍0～20mm*大掃描范圍橫向50um，縱向5um馬達趨近脈沖寬度10±2m掃描分辨率橫向0.2nm，縱向0.05nmCCD放大倍數光學放大0.6～5X電子放大40X掃描速率0.6Hz~4.34Hz圖像采樣點256×256，512×512掃描控制XY采用18-bit D/AZ采用16-bit D/A反饋方式DSP數字反饋數據采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣反饋采樣速率64.0KHz儀器重量體積40KG，700′480′450mm計算機接口USB2.0運行環境運行于WindowsXP/7/8操作系統